精品国产免费观看久久久_久久天天躁狠狠躁夜夜爽_无码人妻少妇久久中文字幕_狠狠做深爱婷婷久久综合一区

<tfoot id="x4zge"><optgroup id="x4zge"></optgroup></tfoot>

<span id="x4zge"></span><fieldset id="x4zge"><optgroup id="x4zge"></optgroup></fieldset>

0755-21004787

新聞動態 | 通用電子測試測量儀器科技服務公司-美佳特科技

當前瀏覽器版本過低，可能會導致樣式錯亂，請更換為更高版本的瀏覽器

為什么以太網傳輸不使用高階（類似QAM）的調制方式？而是采用PAM4？

按理來說使用光纖這種有限通信的可靠性是很高的，而且現在也要求高帶寬，采用高階的調制方式不是可以在單位時間內傳遞更多的bit嗎

Tektronix DSA8300 數字串行分析儀采樣示波器

Tektronix DSA8300數字串行分析儀采樣示波器，一種高級等效時間采樣示波器，專為通信信號分析、串行數據網絡分析和串行數據鏈路分析提供高保真測量和分析功能。該產品具有低時基抖動、最佳垂直分辨率、高電和光接口分辨率、高帶寬以及超過120種自動測量功能等特點，適用于NRZ、RZ和脈沖信號類型的分析。

N1076B_7A_7B_8A DCA-M 時鐘恢復模塊

Keysight公司的N1076B、N1077A、N1077B和N1078A四款時鐘恢復解決方案，這些方案針對不同的數據速率提供電氣和光學信號的精確時鐘恢復功能。N1076B支持高達64 GBd的電氣信號，而N1077A和N1077B則分別支持至32 GBd和64 GBd的光學/電氣混合信號，N1078A專注于64 GBd的單模光纖應用。所有產品均具有靈活的用戶界面和操作系統，可通過簡單的USB連接進行控制，并且能與Keysight的其他測試設備無縫集成。文檔詳細列出了各產品的規格參數，包括輸入輸出范圍、隨機抖動性能、接口類型以及環境工作條件等，旨在幫助用戶選擇適合特定測試需求的產品。此外，還強調了時鐘恢復在確保通信標準符合性及測量高速電子設備方面的重要性。

AQ6370D光譜儀：DWDM系統精準測量

隨著5G網絡的快速推進，光通信技術迎來了前所未有的變革。密集波分復用（DWDM）系統因其高效的數據傳輸能力和頻譜利用率，成為現代光纖通信網絡的核心。然而，DWDM系統中密集的信道分布和高速的數據傳輸，對光譜分析儀（OSA）提出了更高要求。

關于10G光模塊中SR, LR, LRM, ER 和 ZR的區別?

SR, LR, LRM, ER 和 ZR 是 10GIEEE 標準中比較常見的模塊類型, 但是10g SR,LR, LRM, ER和ZR之間有什么區別呢？首先我們需要知道它們各自代表的含義。在光纖通信中, SR, LR, LRM, ER 和ZR是10G光模塊傳輸中的一種距離術語。SR表示短距離,LR表示長距離, LRM 表示長度延伸多點模式, ER 表示超長距離, ZR則表示最長距離。

Anritsu MP2110A MP1900A區別？BERTWave 眼圖儀示波器一體

Anritsu展示了其BERTWave MP2110A與MP1900A 56G PAM4 BERT能夠結合起來提供針對400Gbps光芯片與模塊的TDECQ測量。這表明MP1900A是MP2110A的一個相關產品，且兩者可以協同工作以進行特定類型的測試。

關于MS9740A Anritsu 安立光譜分析儀精華帖，收藏保存

MS9740A是Anritsu公司生產的一款光譜分析儀，主要用于分析600至1750納米波長范圍內的光學信號。MS9740A具有高性能的光學分辨率和高速測量能力，能夠評估高達300個通道的數據，并顯示WDM信號分析所需的信息，如中心波長、水平、信噪比等。

關于MS9740B Anritsu 安立光譜分析儀精華帖，收藏保存

MS9740B光譜分析儀的市場定位主要是面向需要高精度、高速度和寬動態范圍的光通信領域。目標用戶群包括但不限于光通信行業的研發人員、制造和評估850 nm波段VCSEL模塊的工程師、以及進行光學研究和開發的專業人士。

DSOV334A Keysight 是德 Infiniium V 系列示波器簡述

Keysight Infiniium V 系列示波器提供業界領先的精度，33 GHz 模擬帶寬，4 個模擬通道，高達 80 GSa/s 的采樣率和 2 Gpts 采集存儲器可以提供更完整的信號跡線捕獲

關于AQ6370D光譜分析儀精華帖，收藏保存

AQ6370D是橫河電機公司生產的一款光譜分析儀，主要用于電信領域。它提供了600納米到1700納米的波長范圍，適用于廣泛的測試需求。該設備以其高性能和高精度著稱，具有±0.01納米的高波長精度和0.02納米的高波長分辨率。

N7779C keysight 是德可調諧激光源簡述

新款 N7779C 基礎系列可調諧激光源像其他新 N777xC 型號一樣，可以快速步進到離散波長，分辨率達 0.1 pm，典型波長可重復性達 ±3 pm，因此是經濟高效地測試寬帶光器件的理想選擇。波長設置時間短（例如 300 ms），可以實現快速步進掃描。與 N777xC 系列中的其他激光源一樣，它能夠提供超過 +12 dBm 的峰值輸出功率和低自發發射電平。它的功率穩定度達到每小時 ±0.01 dB，因此也可以作為寬調諧范圍的靜態本地振蕩器，用于接收機測試或傳輸實驗。

N7714A keysight 是德 4 端口可調激光源系統簡述

Keysight N7711A 和 N7714A 可調激光源分別配有單個端口和四個端口，提供 C 波段或 L 波段兩種波長范圍。它們具有窄線寬，偏置柵格可以微調，是用于測試最新發射系統實際負載性能的理想激光源。與所有其他是德科技可調激光源一樣，所有型號均可達到其指定波長范圍內的任意波長點。

新聞動態 | 通用電子測試測量儀器科技服務公司-美佳特科技

新聞動態 | 通用電子測試測量儀器科技服務公司-美佳特科技

新聞動態 | 通用電子測試測量儀器科技服務公司-美佳特科技

新聞動態 | 通用電子測試測量儀器科技服務公司-美佳特科技

Rohde & Schwarz SMA100B 羅德射頻和微波信號發生器

SMA100b是由Rohde & Schwarz公司生產的一款射頻和微波信號發生器，它提供了卓越的性能，能夠在維持最高輸出功率的同時提供最純凈的輸出信號。這款信號發生器適用于射頻半導體、無線通信、航空航天和國防等領域的模塊和系統測試與測量任務。

10G光模塊眼圖測試簡述

10G光模塊眼圖測試是一種評估光模塊性能的重要手段，它通過對光信號進行實時監測和分析，從而獲得光模塊性能參數的一種方法。在測試過程中，光信號被轉換為電信號，并通過示波器的波形顯示出來。通過對波形進行分析，可以獲得眼圖的各種參數，例如眼高、眼寬、消光比等，從而評估光模塊的性能。

光貓&光模塊 10G/40G/100G NRZ&PAM4 眼圖測試設備推薦

隨著數據中心和高速網絡的快速發展，對于高性能的測試光貓和光模塊儀器的需求日益增長。本文將為您推薦幾款適用于10G、40G以及100G光模塊的眼圖研發調試和生產測試，推薦方案如下：光貓&光模塊 10G/40G/100G NRZ&PAM4 眼圖測試設備推薦

Keysight E8257D PSG 模擬信號發生器 FQA

Keysight E8257D 覆蓋了從230 kHz到47 GHz的寬頻率范圍，并且在0至55°C的溫度范圍內工作，需要45分鐘的預熱時間才能達到其技術指標。

E8257D還具備強大的調制能力，可以進行各種調制操作。它通常配備有14 MB的閃存，方便用戶存儲和管理數據。該設備廣泛應用于電子測量、通信、雷達、聲音和圖像處理等領域。

N1000A Keysight DCA-X 寬帶寬示波器主機簡述

Keysight N1000A DCA-X 寬帶寬示波器主機由keysight 是德科技生產，該產品屬于高端專業級別的測試設備。其目標用戶群包括但不限于電子制造、半導體設計與測試、通信設備研發等行業的工程師和技術人員。

Tektronix 泰克 DSA8300 光模塊測試

Tektronix DSA8300是一種先進的等效時間采樣示波器，它提供了最高保真的測量和分析能力。這意味著它能夠捕捉到非常細微的信號變化，從而確保在復雜的通信環境中，數據傳輸的準確性和可靠性得到保障。

Tektronix 泰克 DSA8300 TDR阻抗測試操作指南

DSA8300是一款由Tektronix生產的高性能數字采樣示波器，專門用于通信信號分析、串行數據網絡分析以及串行數據鏈路分析等應用。DSA8300具備優異的采集吞吐量，最高可達300 kS/s，這使得其在制造或設備檢定測試中能夠顯著縮短時間。此外，它還支持多種光接口測試解決方案，從115 Mb/s到100 Gb/s甚至更高的速率，覆蓋了單模和多模光纖的廣泛波長范圍。

E4980A Keysight 是德精密型 LCR 表簡述

Keysight E4980A是一款精密型LCR表，具有10 Hz至2 MHz的頻率范圍。在低阻抗和高阻抗條件下都能提供出色的測量速度和精度，基本阻抗精度為0.05%。E4980A還具備快速測量速度，短時間測量為5.6毫秒，中等時間測量為88毫秒，長時間測量為220毫秒。

N9020B keysight 是德信號分析儀簡述

N9020B是Keysight 信號分析儀，屬于X-Series系列。該設備的頻率范圍從10 Hz到20 GHz，分析帶寬最高可達130 MHz。它具備多點觸控界面，能夠顯著降低測量復雜性，即使在測試更先進的器件時也能輕松完成。

2 3 4 5 6 7 8 ... 40

<mark id="k6mjg"></mark>