SANTEC 可調諧激光器 Swept Test System 快速掃描測試系統
Santec掃描測試系統旨在簡化光子測試，并提供完整的解決方案，其中高速分析，高分辨率和高準確性等指標是關鍵。Santec的可調諧激光器(TSL-770、TSL-570等)搭配光功率計(MPM-210H)、偏振控制器(PCU-110)及定制版軟件組成完整的掃描測試系統并且優化了WDL和PDL測量，適用于研發和生產環境。該系統采用實時參考，可同時獲取可調諧激光器的輸出功率和通過DUT傳輸的光功率，利用穆勒矩陣法提供更高精度的WDL和PDL分析。在保持測量完整性的同時，通過重采樣和調整算法來最大化提升測試數據吞吐量。Santec的MPM-210H功率計主機也可與4通道電流計模塊MPM-213結合使用。掃描測試系統與MPM-210H/MPM-213的相結合，適用于測試光纖組件的性能，例如收發器的光電二極管(ROSA/Coherent receiver等)或光信道監測。
SANTEC 可調諧激光器產品特征
實時功率參照
1.精確的WDL / PDL特性測試
高功率重復性 < ±0.02 dB
高PDL重復性 ±0.01 dB
2.激光源功率自動標準化 利用掃頻處理單元(數據采集單元)的重新縮放算法
高波長分辨率以及準確性
減少測量時間 可同時多通道測量
3.支持使用動態庫(DLLs)開發定制軟件 (VB.net、C#、C++ 或LabVIEW)
方便設置測量參數
數據分析
SANTEC 可調諧激光器的應用
光學元件和模塊特性
可調諧濾波器、交織器、光纖布拉格光柵(FBGs)、 耦合器、分路器、隔離器、光開關
WSS、波長阻斷器
DWDM組件 光子材料的表征
光譜學
SANTEC 可調諧激光器的規格
SANTEC 可調諧激光器 Swept Test System 用戶操作界面
SANTEC 可調諧激光器的典型配置
Santec掃描測試系統旨在簡化光子測試，并提供完整的解決方案，其中高速分析，高分辨率和高準確性等指標是關鍵。Santec的可調諧激光器(TSL-770、TSL-570等)搭配光功率計(MPM-210H)、偏振控制器(PCU-110)及定制版軟件組成完整的掃描測試系統并且優化了WDL和PDL測量，適用于研發和生產環境。該系統采用實時參考，可同時獲取可調諧激光器的輸出功率和通過DUT傳輸的光功率，利用穆勒矩陣法提供更高精度的WDL和PDL分析。在保持測量完整性的同時，通過重采樣和調整算法來最大化提升測試數據吞吐量。Santec的MPM-210H功率計主機也可與4通道電流計模塊MPM-213結合使用。掃描測試系統與MPM-210H/MPM-213的相結合，適用于測試光纖組件的性能，例如收發器的光電二極管(ROSA/Coherent receiver等)或光信道監測。
SANTEC 可調諧激光器產品特征
實時功率參照
1.精確的WDL / PDL特性測試
高功率重復性 < ±0.02 dB
高PDL重復性 ±0.01 dB
2.激光源功率自動標準化 利用掃頻處理單元(數據采集單元)的重新縮放算法
高波長分辨率以及準確性
減少測量時間 可同時多通道測量
3.支持使用動態庫(DLLs)開發定制軟件 (VB.net、C#、C++ 或LabVIEW)
方便設置測量參數
數據分析
SANTEC 可調諧激光器的應用
光學元件和模塊特性
可調諧濾波器、交織器、光纖布拉格光柵(FBGs)、 耦合器、分路器、隔離器、光開關
WSS、波長阻斷器
DWDM組件 光子材料的表征
光譜學
SANTEC 可調諧激光器的規格
SANTEC 可調諧激光器 Swept Test System 用戶操作界面
SANTEC 可調諧激光器的典型配置